| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
| dc.contributor.author | Петровская, В. В. | - |
| dc.contributor.author | Шевченко, Н. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2025-05-05T13:53:00Z | - |
| dc.date.available | 2025-05-05T13:53:00Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier.citation | Ярмолик. В. Н. Построение управляемых вероятностных тестов с малым числом тестовых наборов = Constructing controlled random tests with a small number of test patterns / В. Н. Ярмолик, В. В. Петровская, Н. А. Шевченко // Доклады БГУИР. – 2025. – Т. 23, № 2. – С. 92–100. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59740 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрены вопросы тестирования вычислительных систем и их составных компонентов.
Выделен и исследован класс управляемых вероятностных тестов с малым числом тестовых наборов. Представлен метод построения управляемых вероятностных тестов с заданным расстоянием Хэмминга, основой которого является одномерное масштабирование шаблонов, представляющих собой тесты малой разрядности. Предложено применение исчерпывающих и псевдоисчерпывающих тестов в качестве шаблонов
для получения управляемых вероятностных тестов. Исследованы свойства формируемых тестов и подходы по их использованию в качестве альтернативы вероятностным тестам. Эффективность метода построения управляемых вероятностных тестов экспериментально проанализирована и подтверждена для случая
тестирования запоминающих устройств на наличие в них сложных кодочувствительных неисправностей. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | доклады БГУИР | en_US |
| dc.subject | исчерпывающие тесты | en_US |
| dc.subject | псевдоисчерпывающие тесты | en_US |
| dc.subject | расстояние Хэмминга | en_US |
| dc.title | Построение управляемых вероятностных тестов с малым числом тестовых наборов | en_US |
| dc.title.alternative | Constructing controlled random tests with a small number of test patterns | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| dc.identifier.DOI | http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2025-23-2-92-100 | - |
| local.description.annotation | he article considers the issues of testing computing systems and their components. A class of controlled probabilistic tests with a small number of tests patterns is identified and studied. A method for constructing
controlled probabilistic tests with a given Hamming distance is presented, the basis of which is one-dimensional
scaling of templates representing tests of small bit depth. It is proposed to use exhaustive and pseudo-exhaustive
tests as templates for obtaining controlled probabilistic tests. The properties of the generated tests and approaches to their use as an alternative to probabilistic tests are studied. The efficiency of the method for constructing
controlled probabilistic tests is experimentally analyzed and confirmed for the case of testing memory devices
for the presence of complex code-sensitive faults. | en_US |
| Appears in Collections: | Том 23, № 2
|
