| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Денскевич, А. Д. | - |
| dc.contributor.author | Зубрицкий, Е. Д. | - |
| dc.contributor.author | Прорашнева, А. Л. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2025-06-02T10:35:57Z | - |
| dc.date.available | 2025-06-02T10:35:57Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier.citation | Денскевич, А. Д. Анализ технических характеристик нелинейных локаторов с помощью комплексного геометрического показателя качества = Analysis of the technical characteristics of nonlinear locators using a complex geometric quality indicator / А. Д. Денскевич, Е. Д. Зубрицкий, А. Л. Прорашнева // Электронные системы и технологии: сборник материалов 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 21–25 апреля 2025 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2025. – С. 112–114. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59921 | - |
| dc.description.abstract | Приведены результаты расчетов комплексных показателей качества
нелинейных локаторов. Показана диаграмма распределения комплексных показателей
качества, которая позволяет осуществлять выбор наиболее подходящей модели. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | нелинейные локаторы | en_US |
| dc.subject | технические параметры | en_US |
| dc.subject | комплексные показатели качества | en_US |
| dc.title | Анализ технических характеристик нелинейных локаторов с помощью комплексного геометрического показателя качества | en_US |
| dc.title.alternative | Analysis of the technical characteristics of nonlinear locators using a complex geometric quality indicator | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | The results of calculations of complex quality indicators of nonlinear locators are
presented. A diagram of the distribution of complex quality indicators is shown, which allows
selecting the most appropriate model. | en_US |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 61-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2025)
|
