| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Макарцов, И. О. | - |
| dc.contributor.author | Ходяков, И. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2025-06-06T05:57:12Z | - |
| dc.date.available | 2025-06-06T05:57:12Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier.citation | Макарцов, И. О. Расчет коэффициента отражения двухслойного оптического ПОКРЫТИЯ AL₂O₃/MgF₂ методом математического моделирования = Mathematical modeling of the reflection coefficient in a two-layer AL₂O₃/MgF₂ optical coating / И. О. Макарцов, И. В. Ходяков // Электронные системы и технологии : сборник материалов 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 21–25 апреля 2025 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2025. – С. 358–361. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/60011 | - |
| dc.description.abstract | В работе представлен метод расчета коэффициента отражения для
двухслойного антиотражающего покрытия Al₂O₃/MgF₂ на кварцевой подложке.
Проведено моделирование в диапазоне длин волн 200–1000 нм. Результаты
демонстрируют минимум отражения (0,22%) при проектной длине волны 355 нм, что
соответствует четвертьволновой оптимизации. Для верификации модели выполнено
сравнение с экспериментальными данными. Визуализация данных подтверждает
интерференционные эффекты и зависимость от длины волны. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | двухслойные оптические покрытия | en_US |
| dc.subject | антиотражающие покрытия | en_US |
| dc.title | Расчет коэффициента отражения двухслойного оптического ПОКРЫТИЯ AL₂O₃/MgF₂ методом математического моделирования | en_US |
| dc.title.alternative | Mathematical modeling of the reflection coefficient in a two-layer AL₂O₃/MgF₂ optical coating | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | Тhis study presents a method for calculating the reflection coefficient of a two layer anti-reflective Al₂O₃/MgF₂ coating on a quartz substrate. Simulations were performed
across the wavelength range of 200–1000 nm. The results reveal a reflection minimum (0.22%)
at the design wavelength of 355 nm, consistent with quarter-wave optimization. To verify the
model, comparisons with experimental data were conducted. Data visualization confirms the
presence of interference effects and wavelength-dependent behavior. | en_US |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 61-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2025)
|
