| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Засинец, Ю. А. | - |
| dc.contributor.author | Хуцишвили, В. А, | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2025-06-17T06:52:06Z | - |
| dc.date.available | 2025-06-17T06:52:06Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier.citation | Засинец, Ю. А. Показатели тревожности на ЭЭГ и ЭМГ = Anxiety indicators on EEG and EMG / Ю. А. Засинец, В. А. Хуцишвили // Электронные системы и технологии : сборник материалов 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 21–25 апреля 2025 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2025. – С. 352–354. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/60273 | - |
| dc.description.abstract | В работе предложена методика диагностики тревожности и стресса с помощью ЭЭГ и ЭМГ. Исследуется асимметрия активности мозга и мышечные реакции. Методика включает тесты и запись сигналов в разных состояниях, что поможет выявлять ранние признаки тревожных расстройств для своевременного лечения. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | нейрофизиология | en_US |
| dc.subject | энцефалография | en_US |
| dc.subject | тест Спилбергера-Ханина | en_US |
| dc.subject | электромиография | en_US |
| dc.title | Показатели тревожности на ЭЭГ и ЭМГ | en_US |
| dc.title.alternative | Anxiety indicators on EEG and EMG | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | Modern microelectronics is widely used in industry, automated control systems, and consumerdevices. A special device, a programmer, is used for programming microcontrollers. It enables uploading,erasing, and protecting firmware, as well as writing data to the memory of various electronic devices. Thisarticle analyzes existing designs of PIC microcontroller programmers, examines their operating principles,classification, and main characteristics. | en_US |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 61-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2025)
|
