| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шнейдеров, Е. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-03-16T09:28:03Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T11:17:36Z | - |
| dc.date.available | 2016-03-16T09:28:03Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-19T11:17:36Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Шнейдеров, Е. Н. Закономерности деградации функциональных параметров изделий электронной техники / Е. Н. Шнейдеров // Технические средства защиты информации: Тезисы докладов XI Белорусско-российской научно-технической конференции, 5 – 6 июня 2013 г., Минск. - Минск: БГУИР, 2013. - С. 86. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6070 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | закономерности деградации | ru_RU |
| dc.subject | биполярные транзисторы | ru_RU |
| dc.title | Закономерности деградации функциональных параметров изделий электронной техники | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2013
|
