Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/61911
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorАбрамов, И. И.-
dc.contributor.authorКоломейцева, Н. В.-
dc.contributor.authorЛабунов, В. A.-
dc.coverage.spatialМоскваen_US
dc.date.accessioned2025-10-31T06:27:24Z-
dc.date.available2025-10-31T06:27:24Z-
dc.date.issued2025-
dc.identifier.citationАбрамов, И. И. Моделирование перспективных приборов наноэлектроники. Часть 2. Результаты моделирования = Simulation of Perspective Devices of Nanoelectronics. Part 2. Simulation Results / И. И. Абрамов, Н. В. Коломейцева, В. A. Лабунов // Нано- и микросистемная техника. – 2025. – Т. 27, № 5. – С. 215–222.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/61911-
dc.description.abstractПредложены модели перспективных приборов на основе 2D-материалов, а именно: квантовая диффузионно-дрейфовая модель полевого транзистора на двухслойном графене, модель резонансно-туннельных структур (РТС) на основе 2D-материалов с вертикальным транспортом и модель резонансно-туннельных диодов (РТД), содержащих GaN, с вертикальным транспортом. С использованием моделей проведены исследования электрических характеристик приборных структур, включающих одно- и двухслойный графен, диоксид молибдена, карбид кремния, диселенид вольфрама, нитрид галлия. В части II рассмотрены результаты моделирования на основе предложенных моделей.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherНовые технологииen_US
dc.subjectпубликации ученыхen_US
dc.subjectмоделированиеen_US
dc.subjectтранзисторыen_US
dc.subjectграфеныen_US
dc.subject2d-материалыen_US
dc.titleМоделирование перспективных приборов наноэлектроники. Результаты моделированияen_US
dc.title.alternativeSimulation of Perspective Devices of Nanoelectronics. Simulation Resultsen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.DOI10.17587/nmst.27.215-222-
local.description.annotationIn the paper models of perspective devices based on 2D-materials such as a quantum drift-diffusion model of field-effect transistors on bilayer graphene, model of resonant tunneling structures based on 2D-materials with vertical transport and model of resonant tunneling diodes including GaN with vertical transport were proposed. Investigations of IV-characteristics of devise structures including mono- and bilayer graphene, molybdenum dioxide, carbon silicide, wolfram diselenide, gallium nitride were carried out with the using of proposed models. In the part II simulation results based on the proposed models have been considered.en_US
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Abramov_Modelirovanie2.pdf424.62 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.