| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Бересневич, А. И. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-03-25T11:07:07Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T11:17:41Z | - |
| dc.date.available | 2016-03-25T11:07:07Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-19T11:17:41Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Бересневич, А. И. Статистические закономерности между деградацией параметров изделий электроники и их изменениями в условиях действия имитационных факторов / А. И. Бересневич // Технические средства защиты информации: тезисы докладов XI Белорусско-российской научно-технической конференции, 5 – 6 июня 2013 г., Минск. - Минск: БГУИР, 2013. - С. 84. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6212 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференции | ru_RU |
| dc.subject | имитационные факторы | ru_RU |
| dc.subject | биполярные транзисторы | ru_RU |
| dc.title | Статистические закономерности между деградацией параметров изделий электроники и их изменениями в условиях действия имитационных факторов | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2013
|
