| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Bogush, V. A. | - |
| dc.contributor.author | Boiprav, O. V. | - |
| dc.contributor.author | Grinchik, N. N. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2025-12-22T08:10:25Z | - |
| dc.date.available | 2025-12-22T08:10:25Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier.citation | Bogush, V. A. Fractal geometry-based model of electromagnetic radiation interaction with rough surfaces for microelectronics and radiophotonics applications = Модель взаимодействия электромагнитного излучения с шероховатыми поверхностями, основанная на фрактальной геометрии, для микроэлектроники и радиофотоники / V. A. Bogush, O. V. Boiprav, N. N. Grinchik // Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук. – 2025. – T. 61, № 2. – С. 149–158. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/62510 | - |
| dc.description.abstract | The article presents the results of substantiation and approbation of the model of electromagnetic radiation interaction with rough surfaces. This model differs from analogues in the following: 1) surface roughness profiles are described using fractal geometry; 2) it is taken into account that the distribution of the electric field over the surfaces is characterized by the presence of strong discontinuities. The second of the indicated differences led to the use of Maxwell’s equations reduced to wave equations in the framework of the developed model. The developed model is recommended for use in the design of thin-film electromagnetic shields for microelectronics products protection from external and internal interference impact, as well as in the design of such products, in the design of radiophotonics products and theoretical evaluation of the optical and thermal properties of materials. | en_US |
| dc.language.iso | en | en_US |
| dc.publisher | Беларуская навука | en_US |
| dc.subject | публикации ученых | en_US |
| dc.subject | fractal geometry | en_US |
| dc.subject | rough surface | en_US |
| dc.subject | electromagnetic radiation | en_US |
| dc.title | Fractal geometry-based model of electromagnetic radiation interaction with rough surfaces for microelectronics and radiophotonics applications | en_US |
| dc.title.alternative | Модель взаимодействия электромагнитного излучения с шероховатыми поверхностями, основанная на фрактальной геометрии, для микроэлектроники и радиофотоники | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| dc.identifier.DOI | https://doi.org/10.29235/1561-2430-2025-61-2-149-158 | - |
| local.description.annotation | Представлены результаты обоснования и апробации модели взаимодействия электромагнитного излучения с шероховатыми поверхностями. Данная модель отличается от аналогов следующим: 1) профили шероховатости поверхности описываются с помощью фрактальной геометрии; 2) учитывается, что распределение электрического поля по поверхностям характеризуется наличием сильных разрывов. Второе из указанных отличий привело к применению в рамках разработанной модели уравнений Максвелла, сведенных к волновым уравнениям. Полученная модель рекомендуется к использованию при проектировании тонкопленочных электромагнитных экранов для защиты изделий микроэлектроники от воздействия внешних и внутренних помех, при проектировании таких изделий и изделий радиофотоники, а также при теоретической оценке оптических и температурных свойств материалов. | en_US |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
