| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шуринов, К. Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-04-01T09:38:10Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T11:45:45Z | - |
| dc.date.available | 2016-04-01T09:38:10Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-19T11:45:45Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.citation | Шуринов, К. Г. Электрический пробой тонких пленок MOSFET транзисторов / К. Г. Шуринов // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХII Белорусско-российской научно-технической конференции, 28–29 мая 2014 г., Минск. – Минск : БГУИР, 2014. — С. 66. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6288 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | электрический пробой тонких пленок | ru_RU |
| dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
| dc.subject | MOSFET транзисторы | ru_RU |
| dc.title | Электрический пробой тонких пленок MOSFET транзисторов | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2014
|
