| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-04-25T12:56:27Z | - |
| dc.date.available | 2026-04-25T12:56:27Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Боровиков, С. М. Сравнение по критериям Байеса и Неймана-Пирсона моделей прогнозирования надежности изделий электронной техники = Comparison of reliability prediction models for electronic products with of Bayesian and Neyman-Pearson criteria / С. М. Боровиков // Технические средства защиты информации : материалы ХXIV Международной научно-технической конференции, Минск, 8 апреля 2026 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники [и др.] ; редкол.: О. В. Бойправ [и др.]. – Минск, 2026. – С. 163–166. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/63367 | - |
| dc.description.abstract | Приводится сравнение по критериям Байеса и Неймана-Пирсона моделей
прогнозирования класса надежности изделий электронной техники для заданной
наработки по значениям информативных параметров изделий в начальный момент
времени. В качестве изделий электронной техники были выбраны полевые
МОП-транзисторы большой мощности КП744А. Сравнение моделей прогнозирования
выполнялось для разновидностей метода пороговой логики с преобразованием
информативных параметров в двоичный и троичный коды. По результатам сравнения
определена модель, рекомендуемая к использованию в практике. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | изделия электронной техники | en_US |
| dc.subject | надежность | en_US |
| dc.subject | модели прогнозирования | en_US |
| dc.subject | прогнозирующая функция | en_US |
| dc.subject | критерии эффективности | en_US |
| dc.title | Сравнение по критериям Байеса и Неймана-Пирсона моделей прогнозирования надежности изделий электронной техники | en_US |
| dc.title.alternative | Comparison of reliability prediction models for electronic products with of Bayesian and Neyman-Pearson criteria | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | The article presents a comparison by Bayesian and Neyman-Pearson criteria for
models of predicting the reliability class of electronic products for a given operating time based
on the values of informative parameters of products at the initial point in time. High-power
MOS field-effect transistors (KP744A) were selected as the electronic products. The
prediction models were compared for variations of the threshold logic method with using the
transformation of informative parameters into binary and ternary codes. Based on the
comparison results, a model recommended for practical use was determined. | en_US |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2026
|
