| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Давыдов, Г. В. | - |
| dc.contributor.author | Давыдов, И. Г. | - |
| dc.contributor.author | Потапович, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Попов, В. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-04-27T06:31:08Z | - |
| dc.date.available | 2026-04-27T06:31:08Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Стенды для моделирования воздействия удара на радиоэлектронные компоненты = Stands for simulating the impact effect on radioelectronic components / Г. В. Давыдов, И. Г. Давыдов, А. В. Потапович, В. А. Попов // Технические средства защиты информации : материалы ХXIV Международной научно-технической конференции, Минск, 8 апреля 2026 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники [и др.] ; редкол.: О. В. Бойправ [и др.]. – Минск, 2026. – С. 266–269. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/63374 | - |
| dc.description.abstract | Согласно нормативно-технической документации по испытаниям
радиоэлектронной аппаратуры на одиночный удар нормируется значение ускорения
ударного импульса и длительность ударного импульса. При этом требования по
характеру изменения скорости движения испытуемого объекта, а также его
перемещении в пространстве во время воздействия ударного импульса никоим образом
не регламентируется. В работе показано, что игнорирование этими требованиями при
выборе стендов для моделирования воздействия удара на радиоэлектронные
компоненты может приводить к катастрофическим последствиям при эксплуатации. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | одиночный удар | en_US |
| dc.subject | ускорение | en_US |
| dc.subject | скорость | en_US |
| dc.subject | перемещение | en_US |
| dc.subject | стенды моделирования удара | en_US |
| dc.title | Стенды для моделирования воздействия удара на радиоэлектронные компоненты | en_US |
| dc.title.alternative | Stands for simulating the impact effect on radioelectronic components | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | According to regulatory and technical documentation for testing electronic
equipment subject to single impacts, the shock pulse acceleration value and shock pulse
duration are specified. However, requirements for the nature of the test object's velocity
change, as well as its spatial movement during the impact of the shock pulse, are not regulated
in any way. The paper demonstrates that ignoring these requirements when selecting test rigs
for simulating the impact of shocks on electronic components can lead to catastrophic
operational consequences. | en_US |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2026
|
