| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Кайкы, М. Н. | - |
| dc.contributor.author | Иванюк, А. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-04-27T08:37:05Z | - |
| dc.date.available | 2026-04-27T08:37:05Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Кайкы, М. Н. RS-защелка как источник случайности в режиме инициализации = RS-latch as a source of randomness in initialization mode / М. Н. Кайкы, А. А. Иванюк // Технические средства защиты информации : материалы ХXIV Международной научно-технической конференции, Минск, 8 апреля 2026 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники [и др.] ; редкол.: О. В. Бойправ [и др.]. – Минск, 2026. – С. 138–141. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/63398 | - |
| dc.description.abstract | В работе выполнен анализ значений инициализации RS-защелки, реализованной на базе ПЛИС, в котором показано, что разброс задержек в межсоединениях, обусловленный различиями в маршрутах трассировки, является определяющим фактором в получении случайных последовательностей. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | метастабильность | en_US |
| dc.subject | RS-защелка | en_US |
| dc.subject | криптографические механизмы | en_US |
| dc.subject | механизм инициализации | en_US |
| dc.subject | криптостратегии | en_US |
| dc.subject | генерация энтропии | en_US |
| dc.subject | защита информации | en_US |
| dc.title | RS-защелка как источник случайности в режиме инициализации | en_US |
| dc.title.alternative | RS-latch as a source of randomness in initialization mode | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | The work analyzes the initialization values of an RS latch implemented on an FPGA, which shows that the spread of delays in interconnections, caused by differences in routing paths, is a determining factor in obtaining high randomness characteristics. | en_US |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2026
|
