| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Лазарук, С. К. | - |
| dc.contributor.author | Ореховская, Т. И. | - |
| dc.contributor.author | Дудич, В. В. | - |
| dc.contributor.author | Долбик, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Томашевич, Л. П. | - |
| dc.contributor.author | Ефименко, С. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-04-27T11:50:15Z | - |
| dc.date.available | 2026-04-27T11:50:15Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Алюмооксидные корпуса для защиты микросхем от внешних воздействий = Alumina packages for protecting microcircuits from external influences / С. К. Лазарук, Т. И. Ореховская, В. В. Дудич [и др.] // Технические средства защиты информации : материалы ХXIV Международной научно-технической конференции, Минск, 8 апреля 2026 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники [и др.] ; редкол.: О. В. Бойправ [и др.]. – Минск, 2026. – С. 408–411. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/63415 | - |
| dc.description.abstract | Разработана конструкция алюмооксидного корпуса интегральных микросхем, обладающего повышенными защитными свойствами при воздействии внешних электромагнитных полей. Экранирование внешних электромагнитных воздействий осуществляется за счет алюминиевого каркаса основания корпуса. Обсуждены способы защиты микросхем в алюмооксидном корпусе от γ-излучения за счет использования вольфрамовой крышки корпуса, что важно для эксплуатации
микросхем в космических устройствах. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | интегральные микросхемы | en_US |
| dc.subject | электрохимическое анодирование | en_US |
| dc.subject | экранирование | en_US |
| dc.title | Алюмооксидные корпуса для защиты микросхем от внешних воздействий | en_US |
| dc.title.alternative | Alumina packages for protecting microcircuits from external influences | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | A design for an alumina housing for integrated circuits has been developed. It offers enhanced protective properties against external electromagnetic fields. Shielding from external electromagnetic influences is achieved through the use of an aluminum frame at
the housing base. Methods for protecting alumina-housed microcircuits from γ-radiation by using a tungsten housing cap are discussed, which is important for the use of microcircuits in space devices. | en_US |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2026
|
