| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Гурбанович, А. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Гродно | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-04-29T06:21:36Z | - |
| dc.date.available | 2026-04-29T06:21:36Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Гурбанович, А. В. Перспективы применимости метода сканирующей фотоэлектронной микроскопии с использованием синхротронного излучения для изучения быстрозатвердевших фольг сплавов алюминия / А. В. Гурбанович // Физика конденсированного состояния : материалы ХХХIV Международной научно-практической конференции студентов, магистрантов, аспирантов и молодых учёных, Гродно, 23–24 апреля 2026 г. / Гродненский государственный университет имени Янки Купалы ; редкол.: А. С. Воронцов (гл. ред.) [и др.]. – Гродно, 2026. – С. 44–45. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/63465 | - |
| dc.description.abstract | Выполнен литературный обзор статей о возможностях применения метода сканирующей фотоэлектронной спектроскопии (СФЭС). Рассмотрены преимущества СФЭС в сравнении со сканирующей туннельной микроскопией и методом дифракции медленных электронов. Выявлены дальнейшие перспективы применимости СФЭС-метода для исследования фольг на основе сплавов алюминия. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | Гродненский государственный университет имени Янки Купалы | en_US |
| dc.subject | публикации ученых | en_US |
| dc.subject | синхротронное излучение | en_US |
| dc.subject | сплавы алюминия | en_US |
| dc.subject | наномикроскопия | en_US |
| dc.subject | фотоэлектронная микроскопия | en_US |
| dc.title | Перспективы применимости метода сканирующей фотоэлектронной микроскопии с использованием синхротронного излучения для изучения быстро затвердевших фольг сплавов алюминия | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | A literature review on the possibilities of using synchrotron-based photoelectron microscopy (SPEM) has been performed. The advantages of SPEM in comparison with scanning tunneling microscopy and the method of slow electron diffraction were consid ered. Additionally, further prospects for the application of SPEM in the study of aluminum alloy foils have been identified. | en_US |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
