| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Приц, Е. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-06-26T08:21:00Z | - |
| dc.date.available | 2026-06-26T08:21:00Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Приц, Е. В. Методы решения обратной фотометрической задачи для нахождения показателя преломления тонкопленочных структур / Е. В. Приц // Радиотехника и электроника : сборник материалов 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 15–16 апреля 2026 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2026. – С. 247–248. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64304 | - |
| dc.description.abstract | Работа посвящена обзору и анализу методов решения обратной фотометрической задачи, применяемых для высокоточного
определения действительной и мнимой части комплексного показателя преломления (оптических параметров) и толщины
тонкопленочных покрытий. Рассмотрены аналитические подходы на основе интерференционных экстремумов и современные численные оптимизационные алгоритмы, использующие спектры пропускания и отражения. Показано, что использование гибридных алгоритмов с применением дисперсионных моделей позволяет минимизировать погрешность расчетов. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | тонкопленочные структуры | en_US |
| dc.subject | фотометрия | en_US |
| dc.subject | оптоэлектроника | en_US |
| dc.title | Методы решения обратной фотометрической задачи для нахождения показателя преломления тонкопленочных структур | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| Appears in Collections: | Радиотехника и электроника : материалы 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2026)
|
