| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Романович, С. А. | - |
| dc.contributor.author | Сурков, В. Д. | - |
| dc.contributor.author | Тихонович, А. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-07-14T06:48:41Z | - |
| dc.date.available | 2026-07-14T06:48:41Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Романович, С. А. Прогнозирование надёжности изделий электронной техники по информативным параметрам методом пороговой логики = Predicting the reliability of electronic products based on information parameters using the threshold logic method / С. А. Романович, В. Д. Сурков, А. В. Тихонович // Электронные системы и технологии : сборник материалов 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 13–17 апреля 2026 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: П. В. Камлач [и др.]. – Минск, 2026. – С. 119–122. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64601 | - |
| dc.description.abstract | Обсуждается подход к индивидуальному прогнозированию класса надёжности
изделий электронной техники для заданной наработки по значениям информативных
параметров прогнозируемого экземпляра. Известные методы прогнозирования требуют
сложных вычислений по определению прогнозирующей функции для каждого экземпляра. В
качестве альтернативы может использоваться метод пороговой логики, основанный на
преобразовании значений информативных параметров в двоичный код и принятии решения
о классе надёжности прогнозируемого экземпляра по логической таблице без проведения
вычислений. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | прогнозирование | en_US |
| dc.subject | пороговая логика | en_US |
| dc.subject | электронная техника | en_US |
| dc.title | Прогнозирование надёжности изделий электронной техники по информативным параметрам методом пороговой логики | en_US |
| dc.title.alternative | Predicting the reliability of electronic products based on information parameters using the threshold logic method | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | This article discusses an approach to individually predicting the reliability class of
electronic products for a given operating life based on the values of the predicted component's
informative parameters. Known prediction methods require complex calculations to determine the
predictive function for each component. Alternatively, a threshold logic method can be used, based
on converting the informative parameter values into binary code and making a decision on the
predicted component's reliability class based on a logic table without performing calculations. | en_US |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 62-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2026)
|
