Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64645
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЗубарь, Д. С.-
dc.coverage.spatialМинскen_US
dc.date.accessioned2026-07-15T08:47:55Z-
dc.date.available2026-07-15T08:47:55Z-
dc.date.issued2026-
dc.identifier.citationЗубарь, Д. С. Особенности проектирования печатных плат для измерительной аппаратуры = Control of microcontroller under the influence of electrostatic discharge / Д. С. Зубарь // Электронные системы и технологии : сборник материалов 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 13–17 апреля 2026 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: П. В. Камлач [и др.]. – Минск, 2026. – С. 183–185.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64645-
dc.description.abstractРассмотрены критические факторы, влияющие на точность измерительной аппаратуры на этапе проектирования печатных плат. Обоснованы конструкторско- технологические методы обеспечения помехоустойчивости: многослойная структура, разделение аналоговых и цифровых цепей заземления, экранирование высокоимпедансных цепей. На примере разрабатываемого узла (наименование узла) показаны результаты моделирования целостности сигнала и пульсаций питания. Предложенные решения позволяют минимизировать влияние паразитных параметров на метрологические характеристики устройства.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherБГУИРen_US
dc.subjectматериалы конференцийen_US
dc.subjectпечатные платыen_US
dc.subjectизмерительная аппаратураen_US
dc.subjectпомехоустойчивостьen_US
dc.subjectразводка заземленияen_US
dc.titleОсобенности проектирования печатных плат для измерительной аппаратурыen_US
dc.title.alternativeControl of microcontroller under the influence of electrostatic dischargeen_US
dc.typeArticleen_US
local.description.annotationThe critical factors affecting the accuracy of measuring equipment at the stage of printed circuit board design are considered. Design and technological methods for ensuring noise immunity are substantiated: multilayer structure, separation of analog and digital grounding circuits, shielding of high-impedance circuits. Using the example of the developed unit (unit name), the results of signal integrity and power ripple simulation are shown. The proposed solutions minimize the influence of parasitic parameters on the metrological characteristics of the device.en_US
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 62-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2026)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Zubar_Osobennosti.pdf243.89 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.