| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Силенкова, Д. С. | - |
| dc.contributor.author | Зацепина, М. И. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-07-23T07:02:07Z | - |
| dc.date.available | 2026-07-23T07:02:07Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Силенкова, Д. С. Метод расчета ожидаемой надежности программного обеспечения = Method for calculating expected software reliability / Д. С. Силенкова, М. И. Зацепина // Электронные системы и технологии : сборник материалов 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 13–17 апреля 2026 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: П. В. Камлач [и др.]. – Минск, 2026. – С. 898–900. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64853 | - |
| dc.description.abstract | В работе рассматривается метод оценки ожидаемой надежности программного обеспечения, основанный на использовании метрик производственной среды разработки и характеристик программного продукта, а также на модели перехода от прогнозной плотности ошибок к вероятности безотказной работы в течение заданного периода времени. Приводится последовательность вычислений и демонстрируется применение метода на примере исходных данных. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | программное обеспечение | en_US |
| dc.subject | интенсивность отказов | en_US |
| dc.subject | метод последовательной оценки | en_US |
| dc.title | Метод расчета ожидаемой надежности программного обеспечения | en_US |
| dc.title.alternative | Method for calculating expected software reliability | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | This paper considers a computational method for estimating the expected reliability of software. The method is based on the use of development environment metrics and software product characteristics, as well as on a model for transforming the predicted defect density into the probability of failure free operation over a specified time interval. The calculation procedure is presented and illustrated using a set of input data. The proposed approach can be applied in coursework and graduation projects. | en_US |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 62-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2026)
|
