Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6512
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСтепаненко, А. С.-
dc.date.accessioned2016-04-20T10:37:27Z
dc.date.accessioned2017-07-20T12:14:10Z-
dc.date.available2016-04-20T10:37:27Z
dc.date.available2017-07-20T12:14:10Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationСтепаненко, А. С. Термическая нестабильность МОП транзисторов : автореф. дисс. ... магистра технических наук : 1-41 80 01 / А. С. Степаненко ; науч. рук. Б. С. Колосницын. – Минск : БГУИР, 2016. – 8 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6512-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectобласть безопасной работыru_RU
dc.subjectМОП-транзиторru_RU
dc.titleТермическая нестабильность МОП транзисторовru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:1-41 80 01 Микро- и наноэлектроника

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Автореферат.pdf418.97 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.