Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/65763
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПлясункова, А. А.-
dc.contributor.authorШматок, Е. В.-
dc.contributor.authorВрублевский, И. А.-
dc.coverage.spatialГомельen_US
dc.date.accessioned2026-09-16T07:25:44Z-
dc.date.available2026-09-16T07:25:44Z-
dc.date.issued2026-
dc.identifier.citationПлясункова, А. А. Анализ закономерностей формирования пленочных дендритов меди методом электрокристаллизации = Analysis of the regularities of the formation of copper film dendrites by the electrocrystallization method / А. А. Плясункова, Е. В. Шматок, И. А. Врублевский // ERA – Современная наука: электроника, робототехника, автоматизация : материалы II Международной научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Гомель, 30–31 октября 2025 г. / Гомельский государственный технический университет имени П. О. Сухого ; редкол.: А. А. Бойко [и др.]. – Гомель : ГГТУ им. П. О. Сухого, 2026. – С. 274–276.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/65763-
dc.description.abstractПредставлены результаты анализа основных закономерностей формирования пленочных дендритных структур меди методом электрокристаллизации. Показано, что дендритный рост обусловлен совместным действием диффузионных ограничений, приводящих к неустойчивости плоского фронта роста и ускоренному осаждению на выступах, и кристаллографической анизотропии, направляющей рост ветвей вдоль осей <110>. Данные анализа свидетельствуют, что характерный угол ветвления ф = (55 ± 6)°. Полученные результаты важны для управляемого синтеза медных наноструктур с развитой поверхностью для применения в электрохимических устройствах хранения энергии.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherГомельский государственный технический университет имени П. О. Сухогоen_US
dc.subjectпубликации ученыхen_US
dc.subjectдендриты медиen_US
dc.subjectэлектрокристаллизацияen_US
dc.subjectморфологияen_US
dc.subjectдендритный ростen_US
dc.subjectэлектроосаждениеen_US
dc.subjectметаллические покрытияen_US
dc.subjectтонкие пленкиen_US
dc.titleАнализ закономерностей формирования пленочных дендритов меди методом электрокристаллизацииen_US
dc.title.alternativeAnalysis of the regularities of the formation of copper film dendrites by the electrocrystallization methoden_US
dc.typeArticleen_US
local.description.annotationThis work presents an analysis of the formation mechanisms of thin-film copper dendrites obtained by electrocrystallization. It is shown that dendritic growth is caused by the combined action of diffusion limitations, leading to the instability of the flat growth front and accelerated deposition on protrusions, and crystallographic anisotropy, which directs branch growth along the <110> axes. The characteristic branching angle of ф = (55 ± 6)° was measured. The obtained results are important for the targeted synthesis of copper nanostructures with a developed surface for application in electrochemical energy storage devices.en_US
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Plyasunkova_Analiz.pdf1.08 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.