| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.contributor.author | Будник, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Русак, И. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-11-03T08:32:04Z | - |
| dc.date.available | 2026-11-03T08:32:04Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Боровиков, С. М. Эффективность моделей прогнозирования надёжности изделий электроники для автоматизации технологии входного контроля = Effectiveness of reliability prediction models for electronic components to automate incoming inspection processes / С. М. Боровиков, А. В. Будник, И. В. Русак // Компьютерное проектирование в электронике = Electronic Design Automation : сборник научных трудов Международной научно-практической конференции, Минск, 23 октября 2026 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. Р. Стемпицкий [и др.]. – Минск, 2026. – С. 115–118. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/66043 | - |
| dc.description.abstract | На примере транзисторов КТ872А установлены законы распределения информативных параметров отдельно для классов надёжных (K1) и потенциально ненадёжных (K2) экземпляров для нормированной наработки и определены условия моделировании на компьютере обучающей выборки большого объёма. По результатам моделирования получены модели прогнозирования класса надёжности транзисторов тремя методами. Применением моделей к обучающей и четырём контрольным выборкам, включающим по 20 тыс. экземпляров каждая, определена эффективность методов по критерию Байеса. Установлено, что метод с использованием преобразования информативных параметров в троичный код не уступает по эффективности методу потенциальных функций, рекомендованному отраслевым стандартом, но является более простым и понятным для специалистов, легко может быть автоматизирован для использования на входном контроле при отборе надёжных элементов. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | en_US |
| dc.subject | надёжность электроники | en_US |
| dc.subject | прогнозирование | en_US |
| dc.subject | статистическое моделирование | en_US |
| dc.subject | входной контроль | en_US |
| dc.title | Эффективность моделей прогнозирования надёжности изделий электроники для автоматизации технологии входного контроля | en_US |
| dc.title.alternative | Effectiveness of reliability prediction models for electronic components to automate incoming inspection processes | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | Using KT872A transistors as a case study, the distribution laws for informative parameters were established separately for classes of reliable (K1) and potentially unreliable (K2) units at a normalized operating time, and conditions were defined for the computer simulation of a large-scale training dataset. Based on the simulation results, models for predicting transistor reliability classes were developed using three different methods. By applying these models to the training set and four test sets–each comprising 20,000 units–the effectiveness of the methods was evaluated using the Bayes criterion. It has been established that the method based on converting informative parameters into a ternary code is no less effective than the potential functions method recommended by the industry standard; however, it is simpler and more intuitive for specialists and can be easily automated for use in incoming inspection when selecting reliable components. | en_US |
| Appears in Collections: | Компьютерное проектирование в электронике (2026)
|
