| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Левчук, Д. С. | - |
| dc.contributor.author | Соловьёв, Я. А. | - |
| dc.contributor.author | Видрицкий, А. Э. | - |
| dc.contributor.author | Стемпицкий, В. Р. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2026-11-06T07:00:57Z | - |
| dc.date.available | 2026-11-06T07:00:57Z | - |
| dc.date.issued | 2026 | - |
| dc.identifier.citation | Моделирование и верификация компьютерного расчета коэффициента поглощения микроболометрического пикселя = Modeling and verification of the computer calculation of the absorption coefficient of a microbolometric pixel / Д. С. Левчук, Я. А. Соловьёв, А. Э. Видрицкий, В. Р. Стемпицкий // Компьютерное проектирование в электронике = Electronic Design Automation : сборник научных трудов Международной научно-практической конференции, Минск, 23 октября 2026 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. Р. Стемпицкий [и др.]. – Минск, 2026. – С. 77–80. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/66103 | - |
| dc.description.abstract | В данной работе проведен расчет оптических характеристик многослойных структур микроболометрического пикселя методом конечных элементов. Исследованы такие параметры, как пропускание, поглощение и отражение ИК-излучения в диапазоне длин волн 8–12 мкм. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | микроболометры | en_US |
| dc.subject | чувствительные элементы | en_US |
| dc.subject | моделирование | en_US |
| dc.subject | поглощение | en_US |
| dc.subject | LWIR | en_US |
| dc.title | Моделирование и верификация компьютерного расчета коэффициента поглощения микроболометрического пикселя | en_US |
| dc.title.alternative | Modeling and verification of the computer calculation of the absorption coefficient of a microbolometric pixel | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | This paper presents the calculation of the optical characteristics of multilayer structures of a microbolometric pixel using the finite element method. Parameters such as transmission, absorption, and reflection of IR-radiation in the wavelength range of 8–12 μm are studied. | en_US |
| Appears in Collections: | Компьютерное проектирование в электронике (2026)
|
