Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/66171
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorИванюта, С. М.-
dc.contributor.authorАртюшкевич, Г. Д.-
dc.contributor.authorДудич, В. В.-
dc.contributor.authorИонов, М. И.-
dc.contributor.authorДуховников, А. В.-
dc.contributor.authorЛешок, А. А.-
dc.contributor.authorЛазарук, С. К.-
dc.contributor.authorЛабунов, В. А.-
dc.coverage.spatialМинскen_US
dc.date.accessioned2026-11-12T07:06:00Z-
dc.date.available2026-11-12T07:06:00Z-
dc.date.issued2026-
dc.identifier.citationЭффекты мемристорного резистивного переключения в структурах на основе анодных оксидов титана и ниобия = Effects of memristor resistive switching in structures based on anode oxides of titanium and niobium / С. М. Иванюта, Г. Д. Артюшкевич, В. В. Дудич [и др.] // Современные методы и технологии создания и обработки материалов : сборник научных трудов : в 2 кн. Кн. 1 / Государственное научное учреждение «Физико-технический институт Национальной академии наук Беларуси» ; редкол.: В. Г. Залесский [и др.]. – Минск : ФТИ НАН Беларуси, 2026. – С. 102–108.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/66171-
dc.description.abstractСформированы МДМ-структуры на основе оксидов титана и ниобия, полученных методом электрохимического анодирования, и исследован эффект резистивного переключения в них. Установлены закономерности влияния морфологии полученных оксидных слоёв и материала верхнего электрода на электрофизические характеристики мемристорных ячеек. Экспериментально подтверждено, что комбинация электродов с высокой работой выхода (никель) и структуры оксида обеспечивает коэффициент переключения до 50 и снижает напряжение переключения до 2 В.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherФТИ НАН Беларусиen_US
dc.subjectпубликации ученыхen_US
dc.subjectмемристорыen_US
dc.subjectэлектрохимическое анодированиеen_US
dc.subjectрезистивное переключениеen_US
dc.subjectкислородные вакансииen_US
dc.titleЭффекты мемристорного резистивного переключения в структурах на основе анодных оксидов титана и ниобияen_US
dc.title.alternativeEffects of memristor resistive switching in structures based on anode oxides of titanium and niobiumen_US
dc.typeArticleen_US
local.description.annotationMDM structures based on titanium and niobium oxides obtained by electrochemical anodization were formed, and their resistive switching effect was studied. The influence of the morphology of the resulting oxide layers and the top electrode material on the electrical characteristics of the memristor cells was established. It was experimentally confirmed that the combination of high work function electrodes (nickel) and the oxide structure provides a switching coefficient of up to 50 and reduces the switching voltage to 2 V.en_US
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Ivanjuta_Jeffekty.pdf818.46 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.