https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/66185| Title: | Статистическое проектирование и оптимизация технологических процессов и приборных структур микроэлектроники |
| Other Titles: | Statistical design and optimization of technological processes and device structures in microelectronics |
| Authors: | Новиков, Ф. П. Лопатко, А. И. Стемпицкий, В. Р. |
| Keywords: | материалы конференций;компьютерные проектирования;верификация моделей;микроэлектроника |
| Issue Date: | 2026 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Новиков, Ф. П. Статистическое проектирование и оптимизация технологических процессов и приборных структур микроэлектроники = Statistical design and optimization of technological processes and device structures in microelectronics / Ф. П. Новиков, А. И. Лопатко, В. Р. Стемпицкий // Компьютерное проектирование в электронике = Electronic Design Automation : сборник научных трудов Международной научно-практической конференции, Минск, 23 октября 2026 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. Р. Стемпицкий [и др.]. – Минск, 2026. – С. 315–316. |
| Abstract: | Рассмотрены вопросы повышения адекватности компьютерного проектирования изделий микроэлектроники за счет предварительной статистической обработки экспериментальных данных, оптимизации и верификации параметров приборно-технологических моделей. Предложено использовать статистические методы и аппроксимационные зависимости для снижения затрат на натурные эксперименты и повышения достоверности результатов моделирования. Ключевые слова: компьютерное проектирование, микроэлектроника, статистический анализ, оптимизация, верификация моделей, сквозной цикл проектирования, SPICE-параметры, аппроксимация, Монте-Карло. |
| Alternative abstract: | This paper examines methods for improving the accuracy of computer-aided design (CAD) for microelectronic products through the preliminary statistical processing of experimental data, as well as the optimization and verification of parameters for device and process models. It is demonstrated that the current landscape of integrated circuit development necessitates the integration and unification of CAD tools across the entire "technology–device–circuit–system" design cycle. Particular attention is given to the calibration of parameters for physical-mathematical models–including SPICE parameters–and the requirement to adapt these models to nanometer-scale design rules. The use of statistical methods and approximation functions is proposed as a means to reduce the costs associated with physical experiments and to enhance the reliability of simulation results. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/66185 |
| Appears in Collections: | Компьютерное проектирование в электронике (2026) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Novikov_Statisticheskoe.pdf | 93.35 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.