Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/7998
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСтанюш, Иван Павлович-
dc.date.accessioned2016-07-13T09:13:06Z
dc.date.accessioned2017-07-20T12:02:13Z-
dc.date.available2016-07-13T09:13:06Z
dc.date.available2017-07-20T12:02:13Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationСтанюш, И. П. Прогнозирование параметрической надёжности ИЭТ методом имитационных воздействий : автореф. дисс. ... магистра техники и технологии : 1-39 81 01 / И. П. Станюш ; науч. рук. С. М. Боровиков. - Минск : БГУИР, 2016. - 16 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/7998-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectимитационные воздействияru_RU
dc.subjectпараметрическая надёжность ИЭТru_RU
dc.subjectимитационные факторыru_RU
dc.titleПрогнозирование параметрической надёжности ИЭТ методом имитационных воздействийru_RU
dc.typeAbstract of the thesisru_RU
Appears in Collections:1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Автореферат.pdf1.31 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.