| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шинтар, Андрей Владимирович | - |
| dc.date.accessioned | 2016-09-05T11:37:33Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-20T12:02:11Z | - |
| dc.date.available | 2016-09-05T11:37:33Z | |
| dc.date.available | 2017-07-20T12:02:11Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.citation | Шинтар, А. В. Методика оценки надежности микросхем памяти после воздействия электростатических разрядов : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1-39 81 01 / А. В. Шинтар ; науч. рук. Г. А. Пискун. - Минск : БГУИР, 2016. - 16 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/8534 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
| dc.subject | надежность | ru_RU |
| dc.subject | электростатические разряды | ru_RU |
| dc.subject | микросхемы памяти | ru_RU |
| dc.subject | электричество | ru_RU |
| dc.title | Методика оценки надежности микросхем памяти после воздействия электростатических разрядов | ru_RU |
| dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
| Appears in Collections: | 1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем
|
