Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9221
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБужинский, А. Д.-
dc.date.accessioned2016-10-04T07:52:53Z-
dc.date.accessioned2017-07-17T09:30:56Z-
dc.date.available2016-10-04T07:52:53Z-
dc.date.available2017-07-17T09:30:56Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationБужинский, А. Д. Анализ физических причин необратимых отказов полупроводниковых структур при воздействии ЭМИ / А. Д. Бужинский // Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных средств : сборник материалов 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 6–10 мая 2013 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Боднарь И. В. [и др.]. – Минск, 2013. – С. 226–228.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9221-
dc.description.abstractАнализ физических причин необратимых отказов полупроводниковых структур при воздействии ЭМИ позволяет сделать вывод о весьма сложном процессе их деградации, в котором преобладающее влияние оказывает тепловой меха- низм отказов. Для p-n-переходов этапы этого процесса можно кратко записать в виде: ЭМИ – наведённые помехи – изме- нение протекающего тока – электрический (лавинный) пробой – тепловой пробой – выгорание. Тепловому пробою обычно предшествует электрический пробой, но для широких переходов тепловой пробой может наступить, минуя электрический.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectполупроводниковые структурыru_RU
dc.subjectтепловые механизмыru_RU
dc.subjectЭМИru_RU
dc.titleАнализ физических причин необратимых отказов полупроводниковых структур при воздействии ЭМИru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2013)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Анализ физических причин необратимых отказов.PDF502.03 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.