| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Максименко, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Короновский, А. А. | - |
| dc.contributor.author | Москаленко, О. И. | - |
| dc.contributor.author | Храмов, А. Е. | - |
| dc.contributor.author | Алексеев, К. Н. | - |
| dc.contributor.author | Баланов, А. Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-10-01T07:56:26Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T09:40:50Z | - |
| dc.date.available | 2014-10-01T07:56:26Z | |
| dc.date.available | 2017-07-19T09:40:50Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.citation | Максименко, В. А. Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур. // Международная научно-техническая конференция, приуроченная к 50-летию МРТИ-БГУИР (Минск, 18-19 марта 2014 года) : материалы конф. В 2 ч. Ч. 1. - Минск, 2014. - С. 52-53 | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-543-037-8 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/928 | - |
| dc.description.abstract | В работе предложен метод анализа устойчивости стационарного состояния сильносвязанной полупроводниковой сверхрешетки, позволяющий рассчитывать значение напряжения, необходимого для возникновения неустойчивости и находить частоту возникающих колебаний. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковая сверхрешетка | ru_RU |
| dc.subject | пространственно-временная неустойчивость | ru_RU |
| dc.subject | домены | ru_RU |
| dc.title | Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Секция «Радиотехника и электроника»
|
