| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шнейдеров, Е. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-10-10T06:19:57Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-17T09:30:55Z | - |
| dc.date.available | 2016-10-10T06:19:57Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-17T09:30:55Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Шнейдеров, Е. Н. Научные основы прогнозирования параметрической надёжности выборок изделий электронной техники / Е. Н. Шнейдеров // Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных средств : сборник материалов 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 6–10 мая 2013 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Боднарь И. В. [и др.]. – Минск, 2013. – С. 220. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9292 | - |
| dc.description.abstract | Рассматриваются основы прогнозирования постепенных отказов и, следовательно, параметрической надёжности изделий электронной техники по статистическим данным рассматриваемого функционального параметра в начальный момент
времени. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | электронная техника | ru_RU |
| dc.subject | выборка изделий | ru_RU |
| dc.subject | параметрическая надежность | ru_RU |
| dc.title | Научные основы прогнозирования параметрической надёжности выборок изделий электронной техники | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2013)
|
