https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123| Title: | Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам |
| Other Titles: | Convolutional neural model in a task of classification images of the iso- lated digits |
| Authors: | Белоус, А. И. Прибыльский, А. В. |
| Keywords: | доклады БГУИР;скрытый дефект;эксплуатационная надежность;интегральная схема;отбраковка;выходной контроль |
| Issue Date: | 2012 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Белоус, А. И. Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. - 2012. - № 7 (69). - С. 60 - 63. |
| Abstract: | Важнейшей проблемой обеспечения эксплуатационной надежности современной радиоэлектронной аппаратуры является проблема обнаружения в процессе производства интегральных схем, имеющих скрытые (неявные) дефекты. Такие дефекты не выявляются обычными видами контроля, заложенными в нормативной технической документации. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123 |
| Appears in Collections: | №7 (69) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Belous_Opredeleniye.PDF | 568.74 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.