Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123
Title: Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам
Other Titles: Convolutional neural model in a task of classification images of the iso- lated digits
Authors: Белоус, А. И.
Прибыльский, А. В.
Keywords: доклады БГУИР
скрытый дефект
эксплуатационная надежность
интегральная схема
отбраковка
выходной контроль
Issue Date: 2012
Publisher: БГУИР
Citation: Белоус, А. И. Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. - 2012. - № 7 (69). - С. 60 - 63.
Abstract: Важнейшей проблемой обеспечения эксплуатационной надежности современной радиоэлектронной аппаратуры является проблема обнаружения в процессе производства интегральных схем, имеющих скрытые (неявные) дефекты. Такие дефекты не выявляются обычными видами контроля, заложенными в нормативной технической документации.
URI: http://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123
https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123
Appears in Collections:№7 (69)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Belous_Opredeleniye.PDF568,74 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.