https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123
Title: | Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам |
Other Titles: | Identification of sensitivity factors of IC output parameters to internal defects |
Authors: | Белоус, А. И. Прибыльский, А. В. |
Keywords: | доклады БГУИР;скрытый дефект;эксплуатационная надежность;интегральная схема;отбраковка;выходной контроль |
Issue Date: | 2012 |
Publisher: | БГУИР |
Citation: | Белоус, А. И. Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам = Identification of sensitivity factors of IC output parameters to internal defects / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. – 2012. – № 7 (69). – С. 60–63. |
Abstract: | Важнейшей проблемой обеспечения эксплуатационной надежности современной радиоэлектронной аппаратуры является проблема обнаружения в процессе производства интегральных схем, имеющих скрытые (неявные) дефекты. Такие дефекты не выявляются обычными видами контроля, заложенными в нормативной технической документации. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123 |
Appears in Collections: | №7 (69) |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Belous_Opredeleniye.PDF | 568.74 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.