https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123| Title: | Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам | 
| Other Titles: | Identification of sensitivity factors of IC output parameters to internal defects | 
| Authors: | Белоус, А. И. Прибыльский, А. В. | 
| Keywords: | доклады БГУИР;скрытый дефект;эксплуатационная надежность;интегральная схема;отбраковка;выходной контроль | 
| Issue Date: | 2012 | 
| Publisher: | БГУИР | 
| Citation: | Белоус, А. И. Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам = Identification of sensitivity factors of IC output parameters to internal defects / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. – 2012. – № 7 (69). – С. 60–63. | 
| Abstract: | Важнейшей проблемой обеспечения эксплуатационной надежности современной радиоэлектронной аппаратуры является проблема обнаружения в процессе производства интегральных схем, имеющих скрытые (неявные) дефекты. Такие дефекты не выявляются обычными видами контроля, заложенными в нормативной технической документации. | 
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123 | 
| Appears in Collections: | №7 (69) | 
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Belous_Opredeleniye.PDF | 568.74 kB | Adobe PDF | View/Open | 
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.