Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33072
Название: Device and technology simulation of IGBT on SOI structure
Авторы: Lovshenko, I. Yu.
Nelayev, V. V.
Belous, A. I.
Turtsevich, A.
Ключевые слова: материалы конференций;technology «Silicon–On-Insulator»;field transistors
Дата публикации: 2013
Издательство: БГУИР
Описание: Device and technology simulation of IGBT on SOI structure / I. Lovshenko and other // Nano-Design, Technology, Computer Simulation — NDTCS ’ 2013: proceedings of the 15th International Workshop on New Approaches to High-Tech, Minsk, June 11–15, 2013 / BSUIR. - Minsk, 2013. - P. 79 – 81.
Аннотация: Static and dynamics characteristics of the power IGBT device at “Silicon-On-Insulate” structure were simulated. Analysis of the characteristics of such structure in comparison with the IGBT at the bulk silicon are presented. Advantages of IGBT device at SOI are revealed.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33072
Располагается в коллекциях:NDTCS 2013

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Lovshenko_Device.pdf92.33 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.