Skip navigation

Browsing by Subject информативные параметры

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 12 of 12
Issue DateTitleAuthor(s)
2021Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначенияБоровиков, С. М.; Казючиц, В. О.
2022Метод прогнозирования теплового сопротивления переход-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным электрическим параметрамКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2022Определение теплового сопротивления кристалл-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным признакам с использованием уравнения регрессииКазючиц, В. О.
2024Определение эффективности моделей прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов методом статистического имитационного моделированияРусак, И. В.
2021Поиск информативных параметров как одна из задач процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2025Прогнозирование класса надёжности изделий электронной техники методом пороговой логикиКоляда, Е. В.
2023Прогнозирование класса надёжности изделий электронной техники методом преобразования информативных параметров в дискретный кодКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Батура, М. П.; Шнейдеров, Е. Н.
2001Прогнозирование надёжности биполярных транзисторов с использованием принципов пороговой логики методом троичного преобразования информативных параметровСтасюк, Д. М.
2006Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логикиБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Цырельчук, И. Н.
2020Технологии Big Data при анализе результатов ускоренных испытаний полупроводниковых приборов на надёжностьКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.
2022Эвристическая модель прогнозирования работоспособности полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2025Эффективность моделей прогнозирования надежности изделий электронной техники методом преобразования информативных параметров в троичный кодБоровиков, С. М.