| Title: | Определение теплового сопротивления кристалл-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным признакам с использованием уравнения регрессии |
| Other Titles: | Determination of the thermal resistance of junction-case of powerful semiconductor devices by indirect features using regression equation |
| Authors: | Казючиц, В. О. |
| Keywords: | материалы конференций;полупроводниковые приборы;информативные параметры;тепловое сопротивление кристалл-корпус;уравнение регрессии;semiconductor devices;informative parameters;thermal resistance of the crystal-case;regression equation |
| Issue Date: | 2022 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Казючиц, В. О. Определение теплового сопротивления кристалл-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным признакам с использованием уравнения регрессии / В. О. Казючиц // Электронные системы и технологии [Электронный ресурс] : сборник материалов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18-22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2022. – С. 60–63. – Режим доступа : https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46926. |
| Abstract: | На примере полевых транзисторов большой мощности типа КП744А показана возможность оценки теплового сопротивления кристалл–корпус, используя косвенные электрические параметры, подставляемые в модель прогнозирования в виде уравнения регрессии. On the example of high-power field-effect transistors of the KP744A type, the possibility of estimating of the thermal resistance of the crystal-case is shown using indirect electrical parameters substituted into the prediction model in the form of a regression equation. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47090 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 58-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2022)
|
