| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2019 | Автоматизация процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборов | Боровиков, С. М.; Будник, А. В.; Казючиц, В. О. |
| 2007 | Бессвинцовая припойная композиция для сборки полупроводниковых приборов | Ланин, В. Л.; Керенцев, А. Ф.; Турцевич, А. С. |
| 2007 | Выбор параметров электрического режима в качестве имитационных факторов при прогнозировании постепенных отказов биполярных транзисторов | Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Будник, А. В. |
| 2021 | Выбор информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надежности полупроводниковых приборов | Казючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н. |
| 2003 | Мощные и СВЧ полупроводниковые приборы: метод. указания и контрольные задания по дисциплине «Физика активных элементов инте- гральных схем. Мощные и СВЧ полупроводниковые приборы» для студ. спец. 41 01 02 «Микро- и наноэлектронные технологии и системы» заочной и дистанционной форм обучения | Колосницын, Б. С.; Короткевич, А. В. |
| 2022 | Особенности экранирования аппаратуры, подверженной действию ВЧ- и СВЧ-помех | Титович, Н. А. |
| 2003 | Принципы моделирования информативных параметров полупроводниковых приборов | Боровиков, С. М.; Карнаушенко, А. В.; Зорин, Д. В. |
| 2019 | Технологические процессы получения полупроводниковых пластин | Моковский, В. А.; Володин, И. А. |
| 2022 | Эвристическая модель прогнозирования работоспособности полупроводниковых приборов | Казючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н. |
| 2015 | Экспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техники | Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Гилимович, Д. С.; Боровиков, С. М. |
