Репозиторий БГУИР: Browsing DSpace

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:

Showing results 128 to 147 of 199 < previous next >

Issue Date	Title	Author(s)
2011	Практическая подготовка студентов по учебной дисциплине «Теоретические основы проектирования электронных систем безопасности»	Боровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Матюшков, В. Е.
2005	Прикладная математика : метод. пособие для студентов специальностей «Техн. обеспечение безопасности» и «Моделирование и компьютер. проектирование РЭС» заоч. формы обучения	Боровиков, С. М.
2015	Применение «метода анализа дерева отказов» для оценки надёжности электронных систем медицинского назначения	Боровиков, С. М.; Дик, С. К.; Цырельчук, И. Н.; Лихачевский, Д. В.
2011	Применение математических методов в проектировании электронных устройств : метод. пособие по дисциплинам «Основы математ. теории планирования эксперимента» и «Математ. методы в проектировании техн. изделий» для студентов специальности «Техн. обеспечение безопасности» заоч. формы обучения	Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Малышева, Т. В.; Гришель, Р. П.
2011	Применение системы АРИОН в ІТ-образовательных средах	Боровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.
2003	Принципы моделирования информативных параметров полупроводниковых приборов	Боровиков, С. М.; Карнаушенко, А. В.; Зорин, Д. В.
2016	Прогнозирование времени хранения информации после отключения питания для интегральных микросхем энергонезависимой памяти	Плебанович, В. И.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.
2023	Прогнозирование класса надёжности изделий электронной техники методом преобразования информативных параметров в дискретный код	Казючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Батура, М. П.; Шнейдеров, Е. Н.
2023	Прогнозирование надёжности биполярных транзисторов по постепенным отказам методом имитационного моделирования	Калита, Е. В.; Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.
2022	Прогнозирование надежности биполярных транзисторов большой мощности для электронных средств защиты информации длительного функционирования	Калита, Е. В.; Бересневич, А. И.; Боровиков, С. М.
2021	Прогнозирование надежности биполярных транзисторов для электронных устройств систем телекоммуникаций	Казючиц, В. О.; Будник, А. В.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2014	Прогнозирование надежности выборок ИЭТ по числовым характеристикам функционального параметра в начальный момент времени	Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Гришель, Р. П.
2006	Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики	Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Цырельчук, И. Н.
2008	Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе математической модели деградации функционального параметра	Боровиков, С. М.; Шалак, А. В.; Бересневич, А. И.; Емельянов, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.
2003	Прогнозирование надежности полупроводниковых приборов методом имитационного моделирования	Боровиков, С. М.; Щерба, А. И.
2018	Прогнозирование ожидаемой надёжности прикладных программных средств с использованием статистических моделей их безотказности	Боровиков, С. М.; Дик, С. С.
2017	Прогнозирование ожидаемой надёжности прикладных программных средств для учебного процесса	Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Закривашевич, М. Н.; Цырельчук, А. И.
2018	Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционирования	Цырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.; Бересневич, А. И.
2014	Прогнозирование параметрической надёжности изделий электронной техники по физико-статистическим моделям деградации параметров : отчет о НИР (заключ.)	Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бруй, А. А.; Бурак, И. А.
2014	Прогнозирование постепенных отказов ИЭТ по реакции функционального параметра на имитационное воздействие	Боровиков, С. М.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Троян, Ф. Д.

Showing results 128 to 147 of 199 < previous next >

Browsing by Author Боровиков, С. М.