Skip navigation
Home
Browse
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Communities & Collections
Lang
русский
English
Log in:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
Репозиторий БГУИР
Browsing by Author Боровиков, С. М.
Jump to:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
or enter first few letters:
Sort by:
title
issue date
submit date
In order:
Ascending
Descending
Results/Page
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Authors/Record:
All
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Showing results 193 to 201 of 201
< previous
Issue Date
Title
Author(s)
2022
Эвристическая модель прогнозирования работоспособности полупроводниковых приборов
Казючиц, В. О.
;
Боровиков, С. М.
;
Шнейдеров, Е. Н.
2017
Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники
Боровиков, С. М.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Плебанович, В. И.
;
Бересневич, А. И.
;
Бурак, И. А.
2015
Экспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техники
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
;
Гилимович, Д. С.
;
Боровиков, С. М.
2022
Электрические и электронные компоненты устройств и систем. Лабораторный практикум : пособие
Хорошко, В. В.
;
Боровиков, С. М.
;
Фещенко, А. А.
;
Соловьёв, Я. А.
2014
Электромеханические и электромагнитные устройства систем безопасности : учебно-метод. пособие
Сурин, В. М.
;
Боровиков, С. М.
;
Вышинский, Н. В.
2018
Эффективность моделей деградации функциональных параметров при прогнозировании параметрической надежности полупроводниковых приборов.
Боровиков, С. М.
;
Цырельчук, Н. И.
;
Дик, С. С.
;
Шнейдеров, Е. Н.
2005
Эффективность прогнозирования надёжности элементов методом пороговой логики
Боровиков, С. М.
;
Никифоренко, Л. Г.
2005
Эффективность прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов методом имитационных воздействий
Боровиков, С. М.
;
Мандик, Н. Е.
2011
Эффективность профориентационной работы по специальности «Электронные системы безопасности»
Боровиков, С. М.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Цырельчук, И. Н.
;
Матюшков, В. Е.