| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2017 | Компьютерное моделирование проектных решений в учебном процессе и научных исследованиях | Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Жидиляева, Н. И. |
| 2015 | Метод оценки надёжности электронной системы медицинского назначения | Боровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Дик, С. К.; Лихачевский, Д. В.; Цырельчук, Н. И. |
| 2018 | Модели деградации параметров полупроводниковых приборов и их использование для прогнозирования надежности по постепенными отказам | Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Велюха, Ю. Е.; Хорошко, В. В. |
| 2016 | Моделирование как способ исследования надёжности и эффективности функционирования электронных систем | Дик, С. С.; Цырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Borovikov, S. M. |
| 2016 | Оценка надёжности электронной системы методом анализа множества её технических состояний | Цырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Дик, С. С.; Цырельчук, И. Н. |
| 2017 | Оценка надежности электронной системы методом анализа множества ее технических состояний | Цырельчук, Н. И. |
| 2017 | Прогнозирование ожидаемой надёжности прикладных программных средств для учебного процесса | Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Закривашевич, М. Н.; Цырельчук, А. И. |
| 2018 | Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционирования | Цырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.; Бересневич, А. И. |
| 2016 | Прогнозирование эффективности функционирования электронной системы при наличии большого объёма данных о её технических состояниях | Дик, С. С.; Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. К. |
| 2018 | Программные модули обработки больших объёмов данных при статистическом прогнозировании надёжности полупроводниковых приборов | Цырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Казючиц, В. О.; Хорошко, В. В. |
| 2017 | Учебное программное средство для оценки надёжности электронной системы методом анализа множества её технических состояний | Боровиков, С. М.; Цырельчук, А. И.; Жидиляева, Н. И.; Цырельчук, Н. И. |
| 2018 | Эффективность моделей деградации функциональных параметров при прогнозировании параметрической надежности полупроводниковых приборов. | Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Шнейдеров, Е. Н. |
