https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31887| Title: | Модели деградации параметров полупроводниковых приборов и их использование для прогнозирования надежности по постепенными отказам |
| Authors: | Боровиков, С. М. Цырельчук, Н. И. Велюха, Ю. Е. Хорошко, В. В. |
| Keywords: | материалы конференций;параметр полупроводникового прибора;модели деградации |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Модели деградации параметров полупроводниковых приборов и их использование для прогнозирования надежности по постепенными отказам / С. М. Боровиков и др. // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVI Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 5 июня 2018 г. – Минск: БГУИР, 2017. – С. 23. |
| Abstract: | Деградация функционального параметра полупроводникового прибора (ППП) обуславливает появление постепенного отказа ППП. По мере развития технологии изготовления ППП причины возникновения внезапных отказов могут быть в значительной мере устранены. Постепенные отказы, отражающие внутренне присущие материалам ППП свойства, в частности старение, в принципе исключить невозможно. Этим вызван повышенный интерес к постепенным (деградационным) отказам. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31887 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2018 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Borovikov_Modeli.pdf | 293.96 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.