Skip navigation

Browsing by Author Shneiderov, E. N.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 18 of 18
Issue DateTitleAuthor(s)
2017Experience of distance education of us students at the branch of the design of information computer systems departmentBatura, M. P.; Zibitsker, E.; Dzik, S. К.; Tsyrelchuk, I. N.; Shneiderov, E. N.; Батура, М. П.; Зибицкер, Э.; Дик, С. К.; Цырельчук, И. Н.; Шнейдеров, Е. Н.
2016Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull-Gnedenko distributionBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.
2016Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull–Gnedenko distributionBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.
2016Prediction in Big Data TechnologyBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Tsyrelchuk, M. I.; Dzik, S. S.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Дик, С. К.
2018Reliability Prediction of Electroniс Devices, Considering the Gradual FailuresBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е.Н.
2017Software for predicting the reliability of the electronic system by its technical states set analysis methodTsyrelchuk, N. I.; Dzik, S. S.; Borovikov, S. M.; Tsyrelchuk, I. N.; Kaziuchyts, V. O.; Zhidiliaeva, N. I.; Shneiderov, E. N.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Боровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Казючиц, В. О.; Жидиляева, Н. И.; Шнейдеров, Е. Н.
2021Аналитика и корреляционный анализ в определении информативных параметров мощных полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Шнейдеров, Е. Н.; Боровиков, С. М.; Kaziuchyts, V. O.; Shneiderov, E. N.; Borovikov, S. M.
2020Индивидуальное прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием электрического напряжения в качестве имитационного фактораБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Казючиц, В. О.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Berasnevich, A. I.; Kaziuchyts, V. O.
2021Корреляционный анализ в решении задачи поиска информативных параметров транзисторов большой мощностиКазючиц, В. О.; Шнейдеров, Е. Н.; Kaziuchyts, V. O.; Shneiderov, E. N.
2016Прогнозирование времени хранения информации после отключения питания для интегральных микросхем энергонезависимой памятиПлебанович, В. И.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Plebanovich, V. I.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A.
2008Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе математической модели деградации функционального параметраБоровиков, С. М.; Шалак, А. В.; Бересневич, А. И.; Емельянов, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.; Borovikov, S. M.; Shalak, A. V.; Berasnevich, A. I.; Emelyanov, A. V.; Shneiderov, E. N.
2020Прогнозирование электрических характеристик фотоэлектрических преобразователей на основе поликристаллического кремния по моделям их деградацииХорошко, В. В.; Гременок, В. Ф.; Шнейдеров, Е. Н.; Терешкова, А. С.; Аксенов, О. А.; Бруй, Н. М.; Khoroshko, V. V.; Gremenok, V. F.; Shneiderov, E. N.; Tereshkova, A. S.; Aksyonov, O. A.; Bruj, N. M.
2021Прогнозирование энергетических характеристик фотоэлектрических станций методами обучения деревьев решенийХорошко, В. В.; Аксенов, О. Д.; Осмоловская, Т. Н.; Шнейдеров, Е. Н.; Бруй, Н. М.; Khoroshko, V. V.; Aksynov, O. A.; Osmolovskaya, T. N.; Shneiderov, E. N.; Bruj, N. M.
2018Развитие дистанционного образования в рамках проекта «Цифровой университет»Никульшин, Б. В.; Цырельчук, И. Н.; Кривенков, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.; Nikulshin, B. V.; Tsyrelchuk, I. N.; Krivenkov, A. V.; Shneiderov, E. N.
2017Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техникиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Плебанович, В. И.; Бересневич, А. И.; Бурак, И. А.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Plebanovich, V. I.; Berasnevich, A. I.; Burak, I. A.
2018Эффективность моделей деградации функциональных параметров при прогнозировании параметрической надежности полупроводниковых приборов.Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Шнейдеров, Е. Н.; Borovikov, S. M.; Tsyrelchuk, N. I.; Dzik, S. S.; Shneiderov, E. N.
2018Эффективность моделей деградации функциональных параметров при прогнозировании параметрической надежности полупроводниковых приборовБоровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Шнейдеров, Е. Н.; Borovikov, S. M.; Tsyrelchuk, N. I.; Dzik, S. S.; Shneiderov, E. N.
2020Эффективность электронных систем пожарной безопасности в зоне горения автомобилей для подземных гаражей-стоянок жилых зданийХорошко, В. В.; Глинистый, Р. В.; Глинистый, Р. Р.; Шнейдеров, Е. Н.; Королев, А. Г.; Король, О. М.; Khoroshko, V. V.; Hlinisty, R. V.; Hlinisty, R. R.; Shneiderov, E. N.; Korolev, A. G.; Korol, O. M.