Skip navigation

Browsing by Author Shvedov, S. V.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 7 of 7
Issue DateTitleAuthor(s)
2017Depth Measurement of Nanoscale Damage to the Surface of Silicon Wafers in the Production of Submicron Integrated Microcircuits by Auger Spectroscopy MethodSolodukha, V. A.; Shvedov, S. V.; Chyhir, R. R.; Petlitsky, A. N.
2017Depth Measurement of the Nano-dimensional Surface Damages of the Silicon Wafers in Production of the Submicron Integrated CircuitsSolodukha, V. A.; Shvedov, S. V.; Chyhir, R. R.; Petlitsky, A. N.; Petlitskaya, T. V.
2017Optical interconnects between silicon chips based on light-emitting diodes on nanostructured siliconLeshok, A. A.; Dolbik, A. V.; Le Dinh Viа; Matskevichа, A. I.; Vysotskii, V. B.; Shvedov, S. V.
2017Reliability Assessment of the Nano-dimensional Dielectrics of the Submicron MicrocircuitsSolodukha, V. A.; Shvedov, S. V.; Chyhir, R. R.; Petlitsky, A. N.; Filipenya, V. A.
2007Влияние гамма-излучения на параметры различных транзисторных МОП-структур — элементов интегральных микросхемКоршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Белоус, А. И.; Шведов, С. В.; Ластовский, С. Б.; Кульгачев, В. И.; Korshunov, F. P.; Bogatyrev, Y. V.; Belous, A. I.; Shvedov, S. V.; Lastovsky, S. B.; Kulgachev, V. I.
2007Получение и физические свойства Cu(In,Ga)(S,Se)2 пленок для фотопреобразователей многокристальных модулейТиванов, М. С.; Зарецкая, Е. П.; Иванов, В. А.; Гременок, В. Ф.; Залесский, В. Б.; Романов, П. И.; Дроздов, Н. А.; Федотов, А. К.; Белоус, А. И.; Шведов, С. В.; Tivanov, M. S.; Zaretskaya, E. P.; Ivanov, V. A.; Gremenok, V. F.; Zalesski, V. B.; Romanov, P. I.; Drozdov, N. A.; Fedotov, A. K.; Belous, A. I.; Shvedov, S. V.
2009Схемотехнические методы повышения радиационной стойкости КМОП БИСШведов, С. В.; Shvedov, S. V.