https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13464| Title: | Внутренние элементы защиты интегральных схем от воздействия электростатических разрядов |
| Authors: | Быковский, С. И. Шинтар, А. В. Пискун, Г. А. Алексеев, В. Ф. |
| Keywords: | публикации ученых;электростатический разряд;интегральная схема;МОП-транзистор;подложка |
| Issue Date: | 2015 |
| Publisher: | Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г. Ф. Морозова (ВГЛТУ) |
| Citation: | Внутренние элементы защиты интегральных схем от воздействия электростатических разрядов / С. И. Быковский [и др.] // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика. - 2015. - № 7 (18-1). - С. 195 - 198. |
| Abstract: | Представлена классификация базовых встроенных элементов защиты интегральных схем. Исследованы свойства защиты на базе МОП-транзистора: n-МОП транзистора с заземленным затвором (Grounded Gate NMOS Transistor, GGNMOST). |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13464 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Bykovskiy_Vnutrenniye.pdf | 563.83 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.