| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Белоус, А. И. | - |
| dc.contributor.author | Прибыльский, А. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-11-12T14:56:14Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-13T06:03:50Z | - |
| dc.date.available | 2014-11-12T14:56:14Z | |
| dc.date.available | 2017-07-13T06:03:50Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Белоус, А. И. Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схем / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. - 2013. - № 1 (71). - С. 94 - 96. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1406 | - |
| dc.description.abstract | С увеличением степени интеграции интегральных схем, уменьшением геометрических размеров интегральных структур выявление ненадежных схем по-прежнему остается актуальной задачей. Наиболее часто используемый в производстве метод отбраковки потенциально
ненадежных схем – имитация эксплуатационных режимов на этапе испытаний. Однако
сложность и длительность реализации указанного метода делает его практически не пригодным в условиях массового производства интегральных схем. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | дефект | ru_RU |
| dc.subject | отказ | ru_RU |
| dc.subject | надежность | ru_RU |
| dc.subject | пробой диэлектрика | ru_RU |
| dc.title | Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схем | ru_RU |
| dc.title.alternative | Effective method of unreliable CMOS circuts identification | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | №1 (71)
|
