Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1624
Title: Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техники
Other Titles: Interval forecast of degradation of electrical parameters for electronic devices
Authors: Боровиков, С. М.
Borovikov, S. M.
Keywords: доклады БГУИР
изделия электронной техники
биполярные транзисторы
деградация электрических параметров
метод имитационных воздействий
прогнозирование постепенных отказов
средняя ошибка прогнозирования
интервальный прогноз функционального параметра
Issue Date: 2013
Publisher: БГУИР
Citation: Боровиков, С. М. Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техники / С. М. Боровиков // Доклады БГУИР. - 2013. - № 7 (77). - С. 12 - 18.
Abstract: При индивидуальном прогнозировании значений параметра и, следовательно, постепенных отказов изделий электронной техники (ИЭТ) методом имитационных воздействий, о достоверности прогнозирования можно судить по средней ошибке прогнозирования, которая дает представление о достоверности прогноза лишь в среднем. В частных случаях для нового (j-го) экземпляра отклонение истинного значения параметра может заметно отличаться от прогнозного значения. Для практических задач прогнозирования постепенных отказов ИЭТ для будущих наработок важно иметь и интервальный прогноз функционального параметра. Этот прогноз предлагается получать, используя контрольную выборку и гипотезу о нормальном распределении относительной ошибки прогнозирования значений параметра ИЭТ.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1624
Appears in Collections:№7 (77)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Borovikov_Intervalniy.PDF849,67 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.