https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1965| Title: | Создание тестовых режимов для оценки защищености ПЭВМ от утечки по каналам побочных электромагнитных излучений |
| Other Titles: | Creation of test regimes to estimate the security of personal computers from leaking through the side electromagnetic radiation |
| Authors: | Филиппович, А. Г. Шульган, К. К. |
| Keywords: | доклады БГУИР;побочные электромагнитные излучения;интерфейс;тестовый режим |
| Issue Date: | 2011 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Филиппович, А. Г. Создание тестовых режимов для оценки защищености ПЭВМ от утечки по каналам побочных электромагнитных излучений / А. Г. Филиппович, К. К. Шульган // Доклады БГУИР. - 2011. - № 4 (58). - С. 80 - 85. |
| Abstract: | Рассматриваются методы создания тестовых режимов интерфейсов ПЭВМ в целях оценки защищенности информации от утечки по каналам побочных электромагнитных излучений. Предложенный подход к созданию тестовых режимов позволяет создавать максимально возможный уровень побочных электромагнитных излучений, источниками которых являются интерфейсы ПЭВМ, передающие информацию с помощью последовательностей импульсов. Возможность создания и применения таких режимов для оценки защищенности ПЭВМ теоретически и экспериментально исследована для видеоинтерфейса SVGA. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1965 |
| Appears in Collections: | №4 (58) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Filippovich_Sozdaniye.PDF | 499.3 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.