| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-12-05T08:21:48Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-12T11:52:20Z | - |
| dc.date.available | 2014-12-05T08:21:48Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-12T11:52:20Z | - |
| dc.date.issued | 2012 | - |
| dc.identifier.citation | Пискун, Г. А. Контроль функционирования микроконтроллеров при воздействии электростатического разряда = Сontrol of microcontroller under the influence of electrostatic dischargeg / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев // Доклады БГУИР. – 2012. – № 6 (68). – С. 12–18. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1976 | - |
| dc.description.abstract | Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что ухудшение программного кода, инсталлированного во flash-память, наступает при значениях напряжения на 3,06% меньше, чем критическое. Предложена методика контроля функционирования микроконтроллеров при воздействии на них электростатических разрядов с помощью тестовых программ. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | микропроцессорная техника | ru_RU |
| dc.subject | микроконтроллеры | ru_RU |
| dc.subject | контроль | ru_RU |
| dc.subject | программный код | ru_RU |
| dc.subject | электростатические разряды | ru_RU |
| dc.subject | тестовая программа | ru_RU |
| dc.subject | flash-память | ru_RU |
| dc.title | Контроль функционирования микроконтроллеров при воздействии электростатического разряда | ru_RU |
| dc.title.alternative | Сontrol of microcontroller under the influence of electrostatic dischargeg | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | №6 (68)
|
