Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/25386
Title: Исследование характеристик избирательности внимания методом корректурной пробы
Authors: Коркишко, Д. А.
Keywords: материалы конференций;программные приложения;избирательность внимания;корректурные пробы
Issue Date: 2017
Publisher: БГУИР
Citation: Коркишко, Д. А. Исследование характеристик избирательности внимания методом корректурной пробы / Д. А. Коркишко // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : сборник материалов 53-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 2–6 мая 2017 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; отв. ред. А. Л. Раднёнок. – Минск, 2017. – С. 158.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/25386
Appears in Collections:Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 53-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2017)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Korkishko_Issledovaniye.PDF288.62 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.