Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/25818
Title: Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмов
Authors: Занкович, А. П.
Keywords: автореферат диссертаций
неразрушающие тесты ОЗУ
условия обнаружения неисправностей ОЗУ
локально-симметричные тесты ОЗУ
прерываемые тесты ОЗУ
Issue Date: 2006
Publisher: БГУИР
Citation: Занкович, А. П. Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмов: автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.13.05 / А. П. Занкович; науч. рук. В. Н. Ярмолик. - Мн.: БГУИР, 2006. - 22 с.
Abstract: Диссертационная работа посвящена исследованиям в области обеспечения надежности схем ОЗУ. Целью работы является разработка методов, алгоритмов и средств неразрушающего тестирования ОЗУ, характеризующихся высокой достоверностью, малыми аппаратными и программными затратами на реализацию и малым временем обнаружения неисправностей.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/25818
Appears in Collections:05.13.05 Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
zankovich.pdf1,16 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.