| Title: | Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмов |
| Authors: | Занкович, А. П. |
| Keywords: | автореферат диссертаций;неразрушающие тесты ОЗУ;условия обнаружения неисправностей ОЗУ;локально-симметричные тесты ОЗУ;прерываемые тесты ОЗУ |
| Issue Date: | 2006 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Занкович, А. П. Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмов: автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.13.05 / А. П. Занкович; науч. рук. В. Н. Ярмолик. - Мн.: БГУИР, 2006. - 22 с. |
| Abstract: | Диссертационная работа посвящена исследованиям в области обеспечения надежности схем ОЗУ. Целью работы является разработка методов, алгоритмов и средств неразрушающего тестирования ОЗУ, характеризующихся высокой достоверностью, малыми аппаратными и программными затратами на реализацию и малым временем обнаружения неисправностей. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/25818 |
| Appears in Collections: | 05.13.05 Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
|
