Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26045
Title: Методы усовершенствования технологий измерения и совмещения интегральных микросхем
Authors: Навойчик, Е. А.
Янушевский, В. Е.
Keywords: материалы конференций;интегральные микросхемы;усовершенствование технологий
Issue Date: 2017
Publisher: БГУИР
Citation: Навойчик, Е. А. Методы усовершенствования технологий измерения и совмещения интегральных микросхем / Е. А. Навойчик, В. Е. Янушевский // Информационные системы и технологии : материалы 53-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 2–6 мая 2017 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: А. А. Охрименко, В. И. Пачинин, Г. В. Сечко. – Минск , 2017. – С. 22.
Abstract: В наше время интегральные микросхемы занимают одно из передовых мест на мировом рынке. Они нашли свое применение в самых разных сферах: начиная от бытовой техники и заканчивая космической промышленностью. Еще во времена Советского союза завод «Интеграл» славился качеством своей продукции. Технологии совершенствуются, и те работы, которые раньше выполнялись вручную, сейчас требуют минимального вмешательства человека.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26045
Appears in Collections:Информационные системы и технологии : 53-я научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов (2017)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Navoychik_Metody.PDF473.34 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.