| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Леванцевич, В. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-11-14T09:41:15Z | - |
| dc.date.available | 2017-11-14T09:41:15Z | - |
| dc.date.issued | 2017 | - |
| dc.identifier.citation | Леванцевич, В. А. Использование многократных тестов для псевдоисчерпывающего тестирования запоминающих устройств встраиваемых систем / В. А. Леванцевич // Информационные технологии и системы 2017 (ИТС 2017) = Information Technologies and Systems 2017 (ITS 2017) : материалы междунар. науч. конф. (Республика Беларусь, Минск, 25 октября 2017 года) / редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск : БГУИР, 2017. – С. 166 - 167. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27705 | - |
| dc.description.abstract | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств встраиваемых систем, в
том числе оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Обосновывается использование многократных
тестов ОЗУ с изменяемыми адресными последовательностями для псевдоисчерпывающего тестирования
ОЗУ. Приводятся оценки минимальной, максимальной и средней кратности многократного теста для
обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | псевдоисчерпывающее тестирование | ru_RU |
| dc.subject | запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.subject | встраиваемые системы | ru_RU |
| dc.title | Использование многократных тестов для псевдоисчерпывающего тестирования запоминающих устройств встраиваемых систем | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ИТС 2017
|
